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涂层测厚仪的原理和影响因素

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涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度,具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量*的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
 
原理:利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。
 
涂层测厚仪影响因素
(1)磁性金属基体。磁性材料磁性的变化会造成影响,并且该影响会导致测量的度发生改变。因此测量,当使用厚度测量的测量方法,应注意使金属表面的粗糙度和磁场的需要和标本是类似的标准件。
(2)基体金属的厚度。需要强调的是,测量每个仪器具有一定的临界厚度,一旦超过临界值,测量结果受基体金属厚度不受影响,从而造成测量结果的偏差,因此基体的金属厚度将是非常的关键。
(3)边缘效应。标本的测量、表面粗糙度、表面形状会影响测量结果 , 特别是在靠近边缘部分的标本 , 因为测量仪器非常敏感 , 因此 , 标本的边缘部分多数为不科学的测量数据。

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